CUBE 金属夹杂物扫描电镜
EM科特(EmCrafts)Cube系列金属夹杂物扫描电镜,可根据不同的检测需求,灵活定制自动分析流程,保证高通量快速运行。同时可将您所需要的样品信息,如颗粒尺寸、形状、长宽比等同时显示在界面。即使是初学者也可以方便快速地获得整个样品中几千甚至几万颗粒的信息。
蔡司扫描电镜原位解决方案
扫描电镜原位技术已经广泛应用于材料科学研究的各个领域,它可以将材料宏观性能与微观结构联系起来,这对研发高性能新型材料非常有帮助。但电镜原位实验从来都不是一个简单的工作,有的时候甚至还需要一些运气。为了让电镜原位实验变得更加智能高效,蔡司最新推出了扫描
热场发射扫描电子显微镜
JSM-7800F是日本电子于2011年7月推出的新一代热场发射扫描电子显微镜,具有超高分辨率和快速高精度分析的特点,束流强度大,稳定性高,特别是在低加速电压下能够获得世界高的图象分辨率。
PicoFemto(皮飞) 透射电镜电学测量样品杆
PicoFemto (皮飞)透射电镜原位电学性能测试样品杆,可搭配FEI,JOEL,日立各型号透射电镜使用。对单个纳米结构进行操控和电学测量,同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。
德国徕卡序列断层成像解决方案ARTOS 3D
可快速获取适用于序列断层成像的高品质连续切片,使用 ARTOS 3D  超薄切片机,仅需一半时间,即可为序列断层成像获得一致、超薄的连续切片。
S-4800扫描电子显微镜
S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述:A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s
Anyty(艾尼提)便携式显微镜3R-MSA580
触摸屏,内置直线,角度,面积,十字线测量功能,所有测量全部通过触摸选点方式完成,每个端点都可支持微移,从而达到准确的测量效果可以保存测量数据图与原始拍摄图像。
工业CCD镜头
机器视觉工业CCD镜头广泛用于丝网印刷机械、贴合、切割、PS打孔机、PCB补线机、PCB打孔机、玻璃割片机、点胶机、SMT检测、贴版机等工业精密对位、定位、零件确认、尺寸测量、工业显微等视觉对位、测量装置等领域。